Impact and origin of the oxide-interface traps in Al/Yb2O3/n-Si/Al on the electrical characteristics için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Impact and origin of the oxide-interface traps in Al/Yb2O3/n-Si/Al on the electrical characteristics | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Aralık 2024 | 0 |
| Ocak 2025 | 0 |
| Şubat 2025 | 0 |
| Mart 2025 | 0 |
| Nisan 2025 | 0 |
| Mayıs 2025 | 0 |
| Haziran 2025 | 0 |
