Effects of post deposition annealing, interface states and series resistance on electrical characteristics of HfO2 MOS capacitors için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Effects of post deposition annealing, interface states and series resistance on electrical characteristics of HfO2 MOS capacitors | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Temmuz 2024 | 0 |
| Ağustos 2024 | 0 |
| Eylül 2024 | 0 |
| Ekim 2024 | 0 |
| Kasım 2024 | 0 |
| Aralık 2024 | 0 |
| Ocak 2025 | 0 |
